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附件是我找到的一些比较好的论文,有兴趣的同学可以下载看看。 |
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SoC测试中数据压缩与降低功耗方法研究_商进.rar
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低测试成本的确定性内建自测试_BIST_的研究_周彬.rar
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低功耗内建自测试_BIST_设计技术的研究_李杰.rar
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基于FDR编码的高效测试数据压缩扫描树结构研究_鲁丹.rar
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基于扫描链重排序的低功耗测试方法研究_周晟.rar
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基于组合解压缩电路的多扫描链测试方法_董婕.rar
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数字电路测试激励压缩研究_张玲.rar
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