ATPG set_black_box

juniorm · 发表于 2014-11-28 14:17:04

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x

在产生test pattern时，将memory设成black box,
我的理解是这样处理以后tool会认为memory的output为X，
并基于这样的前提产生test pattern。

但我现在遇到的问题是仿真出现mis.match.
trace电路发现是报error的scan FF的 clock是由一个clock gating cell传出来的，
而clock gating cell的TEpin连到scan_enable上，E是有memory的输出，经过一推logic传过来的。
仿真的时候恰好在scan_enable =0时,memory的Q为X，就导致clock为X。。。

我想请问下对这样的情况该怎么办？TE一定要接到test_mode上么？

杀猪的日子 · 发表于 2014-11-30 18:28:29

when atpg ,you should close memory .

aiwa0311 · 发表于 2015-2-3 15:02:59

楼上说得很对。你的code中就需要关闭mem 在atpg模式下。

eccllescml · 发表于 2015-2-11 09:59:15

你chip 里面会用到scan_en_cg么？scan_enable 会接DFF的TE，gating cell的TE接scan_en_cg

shiweishiwei · 发表于 2015-5-6 21:31:04

学些顶贴！！！！！！！！！

yangzai1236 · 发表于 2015-6-25 22:05:00

完全搞不懂

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