关于门控时钟的测试使能端的选择

dingyi16 · 发表于 2014-7-22 20:54:01

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本帖最后由 dingyi16 于 2014-7-27 11:24 编辑

各位大虾们，今天看到一个门控时钟的DFT解决方案，有一些疑惑，麻烦各位能不能帮我解惑一下。
为了能够在测试模式下使门控的时钟可控，会增加一个或门和一个测试使能信号test_en或者scan_en。
原来以为只是用test_en，但是好像查阅了资料发现，test_en测试模式下始终为高，这样就无法检测或门的故障点了，从而降低故障覆盖率。
但是貌似也不能用scan_en吧，因为scan_en只有在shift模式下才能为高，而在capture模式下，该信号就拉低了，这样或门输出就可能为0，而导致在capture模式下，与门被关闭，而使门控时钟输出为0，这样在capture模式下就不能正常的捕捉测试向量了，而导致测试故障？

截图00.jpg

heeda · 发表于 2014-7-22 22:21:35

看不清楚

[求助] 关于门控时钟的测试使能端的选择

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