set_autofix 怎么用啊，我得脚本哪里有问题啊

ysn012345

set test_default_delay 0
set test_default_bidir_delay 0
set test_default_strobe 40
set_scan_configuration -chain_count 1
set_scan_configuration -style multiplexed_flip_flop
set_scan_configuration -clock_mixing mix_clocks
set_scan_configuration -add_lockup true
set hdlin_enable_rtldrc_info true

set_dft_signal -view existing_dft -port clk_sys    -type ScanClock  -timing {45 55}
set_dft_signal -view spec         -port clk_sys     -type TestDate   
set_dft_signal -view spec         -port  test_w        -type  Constant -active_state 1
set_dft_signal -view existing_dft -port  test_w        -type TestMode    -active_state 1
set_dft_signal -view spec         -port init_en      -type ScanEnable -active_state 1
set_dft_signal -view existing_dft -port init_en       -type TestDate   -active_state 1
set_dft_signal -view existing_dft -port rst_n   -type Reset      -active_state 0

set_dft_insertion_configuration -preserve_design_name true
set_dft_signal -view spec -port data_in -type ScanDataIn
set_dft_signal -view spec -port data_out -type ScanDataOut
set_scan_path chain1 -view spec  -scan_data_in data_in -scan_data_out data_out

#set_scan_element  true MT
#set_drive 0 [get_ports test_w]
#set_dont_touch_network [get_ports test_w]
#set_ideal_network -no_propagate [get_ports test_w]
set_dont_touch {M5/EEPROM}
set_dont_touch {clkscan_678_dft_inst}
set_dont_touch {clkscan_clkin_dft_inst}
set_dont_touch {clkscan_clk_dft_inst}
set_dont_touch {clkscan_clkout_dft_inst}
set_dont_touch {clkscan_clkoutfm0_dft_inst}
set_dont_touch {clkscan_clk240_dft_inst}
set_dft_configuration -fix_reset enable
set_dft_configuration -fix_clock enable
set_dft_configuration -fix_bidirectional enable
set_dft_configuration -observe_points enable
#set_testability_configuration -type observe -clock_signal MT/clk_out_fm0_reg
#set_testability_configuration -type control -clock_signal clk_out_fm0_
set_dft_signal -view spec       -port rst_n   -type TestDate   -active_state 0
set_dft_signal -view spec      -port  test_w  -type  TestDate  -active_state 1
set_autofix_configuration -type reset -test_data     rst_n  -control_signal test_w -method mux
set_autofix_element MT/clk_reg -type clock -method  mux -control_signal test_w -test_data clk_sys
set_test_point_element -type observe MT/clk__reg/ck -clock_signal clk_sys -control_signal test_w
set_autofix_configuration -type clock -method  mux -control_signal test_w -test_data clk_sys
set_autofix_configuration -type reset -method  mux -control_signal test_w -test_data rst_n
create_test_protocol
preview_dft
dft_drc


rst_n异步复位；test_w 只有存储模块用到，但存储不进行测试，我用来做测试控制；init_en是一个模块的初始化，其他模块不用，用来做scan_enable；clk_sys系统时钟,用来做扫描时钟；CLK678是给存储块的时钟；clkscan_678_dft_inst这些是我分频时加的mux，但在二级分频和三级分频时，时钟不可控。。
我现在都不知道怎么办？到底哪里错了呢！set_testability_configuration说是没有model，，autofix我也加不进去，求解，我定义出问题了么？这个clk_reg的ck不可控。clk_out_fm0_是clk_sys 分频出来的。