在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜帖子
楼主: lvwei_1024

[原创] 2013 springer新书:VLSI Design and Test: 17th International Symposium, VDAT 2013

[复制链接]
发表于 2016-6-19 05:58:22 | 显示全部楼层
多谢楼主
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-12-30 21:55:20 | 显示全部楼层
哇塞,楼主非常给力啊!!正好需要这两本!!!
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-12-31 08:41:41 | 显示全部楼层
感謝分享
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2016-12-31 15:23:20 | 显示全部楼层
thnx!
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2017-3-21 17:48:16 | 显示全部楼层
thnx!
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2017-9-17 14:30:54 | 显示全部楼层
VLSI Design and Test.pdf (13.91 MB)
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2017-9-17 14:31:33 | 显示全部楼层
Progress in VLSI Design and Test.pdf (11.89 MB)
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2018-2-13 10:16:05 | 显示全部楼层
谢谢 非常好的书
回复 支持 反对

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条


手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-9-13 21:33 , Processed in 0.019172 second(s), 3 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表