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查看: 3258|回复: 7

可以讨论下数字后端对良品率的影响吗?

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发表于 2007-1-11 16:26:56 | 显示全部楼层 |阅读模式

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l量产的芯片通不过硬件测试,出现死机之类的情况。不知道版主有米有相关的资料可以介绍下,工艺或者后端设计上的不完善对最终的芯片产生甚么样的影响。
发表于 2007-1-14 13:34:03 | 显示全部楼层
我没资料!
支持一下
发表于 2007-1-15 15:13:19 | 显示全部楼层
后端设计对良率有较大的影响,在layout是要多作考虑
发表于 2007-1-28 15:39:45 | 显示全部楼层
前段影响work,后段主要影响良率。
发表于 2007-4-29 19:38:05 | 显示全部楼层
dddddddddddddddddddddddd
发表于 2014-7-11 18:20:14 | 显示全部楼层
学习了,前后端的影响
发表于 2014-7-12 00:35:27 | 显示全部楼层




IR-Drop,SI都有影响吧
时间长的话,EM问题也会出现
发表于 2014-7-13 13:50:20 | 显示全部楼层
这个是功能性问题吧,哪里是良率的问题,  问题不小了,
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