RS485 EFT测试失效问题

遗忘的阶梯 · 发表于 2013-4-26 22:06:48

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各位大师，小弟在对RS485的A、B端口做脉冲群测试时，芯片发生了失效，电源电压从5v跌落到2点几伏特，其他IO端口也同样发生了电压跌落现象，就连栅极输入端口也发生了，重新上电后，芯片正常工作；这是不是RS485 IO端口上的ESD器件引起的？脉冲群信号是不是进入了电源系统而导致芯片latch-up？
   片做破坏性测试后发现：普通的IO端口上的ESD器件的NMOS处烧坏了，而VDD，GND上的ESD并未损坏，这有会是何原因？
   芯片对EFT的防护，是否是通过控制PAD上的ESD或TVS器件的开启窗口进行防护？
   对另一片A、B端口上带有TVS的RS485进行EFT测试时，芯片能正常通讯，但用表笔和示波器在RE、RO、DE等普通端口探测是，芯片有时就会失效，在输出端口尤甚，这是不是因为TVS起到了防护作用，但是级别不够的原因？？？
   各位帮帮忙吧，这都困扰我快两个月了，实在要疯了！！！