求助各位前辈:导致485接口芯片的eft脉冲群测试失败的有哪些？？

遗忘的阶梯 · 发表于 2013-3-6 09:43:34

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小弟我刚流了一个485的接口芯片，在做脉冲群测试时，芯片失效了，重新上电后芯片还能工作，失效时芯片出现发热现象，在RO端口出现干扰的情况下芯片更容易失效，其他端口受干扰时偶尔失效。请问各位前辈，导致芯片脉冲群测试失败的因素有哪些？？芯片设计时又该注意什么？？？？？？

y3rike · 发表于 2013-3-6 16:54:41

是不是匹配电阻导致的问题？
这个芯片发热跟失效没关系，只是脉冲群的能量较大造成的

抗干扰性能跟foundry有关系的，找他们要相关资料

是单独一块485芯片还是还有其他功能的片子

遗忘的阶梯 · 发表于 2013-3-6 18:39:09

回复 2# y3rike

是单独的485芯片

taoly_ic · 发表于 2014-9-28 17:06:56

你的现象看起来应该是群脉冲引起的LATCH-UP，我以前也遇到过，后来改好了。

randysong · 发表于 2015-1-14 10:25:21

你的现象看起来应该是群脉冲引起的LATCH-UP，我以前也遇到过，后来改好了。
taoly_ic 发表于 2014-9-28 17:06

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请问是怎么改好的？

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