在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

搜帖子
楼主: xuecunhu

[资料] dft test 必看之2VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

[复制链接]
发表于 2016-9-21 01:30:04 | 显示全部楼层
very good book
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2017-2-9 10:12:49 | 显示全部楼层
谢谢,带走了
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2017-7-27 18:05:13 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2017-7-28 22:51:47 | 显示全部楼层
学习了
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2018-2-13 10:11:26 | 显示全部楼层
mark mark
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2018-11-8 17:51:12 | 显示全部楼层
VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability.part1.rar (4 MB)


VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability.part2.rar (898.3 KB)
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2018-11-8 17:52:52 | 显示全部楼层
VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability.part1.rar (4 MB)


VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability.part2.rar (898.3 KB)
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2019-7-15 11:51:32 | 显示全部楼层
good book.
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2022-9-25 09:31:44 | 显示全部楼层
谢谢!
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2022-9-26 09:30:23 | 显示全部楼层
感谢
回复 支持 反对

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条


手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-8-17 12:03 , Processed in 0.016779 second(s), 3 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表