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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › 后端设计 › 后端讨论区 › 数字后端LVS问题
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查看: 4757|回复: 7

[求助] 数字后端LVS问题

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syntek_yang
发表于 2012-12-19 11:16:05 | 显示全部楼层 |阅读模式

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在跑LVS时遇到下面问题，求大神指点：
layout                                                             source
l: 0.183073                                                        l: 1.8
w:1.18314                                                        w:1.18
souce是标准单元库的，这个layout小数位怎么多了几位，LVS过不了，求大神啊！！
一直找不到原因，指点一下!!!!!
谢谢了！
layout, 原因

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xjg@hmes
发表于 2012-12-19 11:35:38 | 显示全部楼层
我猜有两种可能
1、cdl中scale不一致，也就是单位问题
2、LVS Rule中ＴＲＡＣＥ　ＰＲＯＰＥＲＴＹ精度太严格
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magic114
发表于 2012-12-19 18:33:48 | 显示全部楼层
精度问题，打开layout看一下就知道了。。。我猜是45°走向的poly
calibre抽取layout中管子尺寸的方法是，计算出该图形的面积，再除以长度或高度什么（这点我记不太清），所以对于45°走向的图形，计算出来尺寸和source里的有差异
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e07610230
发表于 2012-12-19 22:06:01 | 显示全部楼层
等结果。
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syntek_yang
 楼主| 发表于 2012-12-26 11:56:57 | 显示全部楼层
在标准单元库中，他会告诉你管子有个容差，大约为3%
所以要修改lvs的ＴＲＡＣＥ　ＰＲＯＰＥＲＴＹ
将最后一列的0改为3，就OK了
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gnoc
发表于 2013-6-14 16:54:32 | 显示全部楼层
学习~
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一路向前
发表于 2013-6-14 19:20:59 | 显示全部楼层
学习  ..
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王不动
发表于 2013-6-17 17:28:45 | 显示全部楼层
1.8和1.18差太多了，修改trace property也过不了的，还是有别的问题的吧
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