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芯片精品文章合集(500篇!) 创芯人才网--重磅上线啦!
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[资料] 电源完整性测试

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发表于 2012-12-17 12:43:27 | 显示全部楼层 |阅读模式

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随着芯片功率不断升高,工作电压不断降低,电源地噪声逐渐成为互连设计中关注的对象。从测试对象的角度,电源完整性测试可分为两步分,电源系统特性测试和电源地噪声测试。前者是对系统供电部分性能的测试(无源测试),后者是直接测试系统工作时的电源地噪声(有源测试),同步开关噪声也可归类为电源地噪声。
测试电源系统性能时,通常使用网络分析仪,测试对象是电源系统的Self-ImpedanceTransfer-Impedance。一般情况下,电源系统的阻抗均远小于网络分析仪系统阻抗(50欧姆),所以测试时只要做直通校准就可以了,利用公式S21=Z/25就可以得到电源系统的阻抗。
测试电源地噪声一般使用示波器,使用示波器时,一般需要把带宽限制到20MHz(或25MHz)。同时需要使用1:1探头(衰减比为1:1)或使用同轴电缆(需要使用AC耦合)。使用10:1的探头会使得示波器显示噪声增大(因为要弥补10倍的衰减,显示上需要软件做运算弥补,增大了噪声),测试精度大打折扣。使用同轴电缆,需要把示波器的输入阻抗设置为50欧姆,因为电源地网络的阻抗一般为毫欧姆级,所以,对被测电源影响不大,但是效果却非常好。如果示波器自身不支持AC耦合,需要把电缆剪断焊接uF级电容,或在被测点焊接uF级电容后再测试。
上面所描述的方法都是测试单板上的电源地噪声,而真正影响芯片工作的是芯片内的电源地噪声,这时需要借助同步开关噪声测试来确定芯片内的电源地噪声。设芯片有 NIO端口,令其中一个保持静止,另外N-1个同时翻转,测试静止网络上的信号波形,即同步开关噪声。同步开关噪声中既包括电源地噪声,也包括封装内不同信号之间的串扰,目前没有办法将二者完全区分开。
发表于 2012-12-20 09:02:12 | 显示全部楼层
我想请问下你们现在有用VNA测试PDN吗?
发表于 2012-12-22 14:21:13 | 显示全部楼层
了解了解。。。谢谢了。
发表于 2012-12-24 07:38:49 | 显示全部楼层
Thanks for the experience sharing
发表于 2015-1-29 22:30:05 | 显示全部楼层
謝謝樓主的資料
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