[求助] 芯片高低温测试Gain变化20dB以上！！！！！

lu2zhi4jian1 · 发表于 2012-10-13 00:06:25

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芯片输入中心频率12GHz，输出中频1.5GHz，
集成RX、PLL、Bias模块，
RX使用constant-gm偏置，
把整块测试版放进高低温箱进行高低温测试，
PCB板使用rogers 4003，其他片外器件有电阻电容、晶振
已经确保PLL输出的LO高低温测试没有问题，
然而RX Gain从常温到80摄氏度，增益掉了24dB，
假如问题不在偏置那里，请问各位大侠还有什么地方可能是问题所在呀？

sohubjb · 发表于 2012-10-14 11:45:41

用了开环增益吧

shadow_cuk · 发表于 2012-10-14 18:47:52

直流点呀直流点

lu2zhi4jian1 · 发表于 2012-10-14 19:55:52

回复 2# sohubjb

是的，用了开环的，这个变化太大太大了

lu2zhi4jian1 · 发表于 2012-10-14 19:57:37

回复 3# shadow_cuk

直流点测试看不出问题

sohubjb · 发表于 2012-10-14 22:00:33

那没办法，用了开环增益放大器，这个增益在typical时还蛮大，你温度前仿变化如何。如果不高再考虑bg上电流的变化

lu2zhi4jian1 · 发表于 2012-10-15 12:14:21

回复 6# sohubjb

增益随温度，前后仿都没有测试变化那么那么大
RX偏置是使用constant-gm的，内部VDD倒是随温度变化不大（这个是BG做reference的LDO驱动的）

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