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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › VLSI测试方法学和可测性设计pdf 资料
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楼主: duchuixinhu

[资料] VLSI测试方法学和可测性设计pdf 资料

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OFDM1985
发表于 2013-7-31 22:53:45 | 显示全部楼层
看YI看,怎么也得都下下来吧
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OFDM1985
发表于 2013-7-31 22:58:06 | 显示全部楼层
要看一看，估计不错
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okdfen
发表于 2013-8-1 18:51:40 | 显示全部楼层
正需要
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mryjp
发表于 2013-8-1 21:09:08 | 显示全部楼层
顶，看看
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helloday
发表于 2013-8-2 13:23:22 | 显示全部楼层
这本书真心不错
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arch_devil
发表于 2013-9-30 07:05:03 | 显示全部楼层
感谢楼主提供~~，
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dake1025
发表于 2014-3-4 16:59:22 | 显示全部楼层
ding xia sdjf asldgjlas
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dake1025
发表于 2014-3-4 18:52:26 | 显示全部楼层
sdkjfaijdsifjiosdj
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jimcmwang
发表于 2014-3-17 13:07:32 | 显示全部楼层
感谢分享  赶紧下来一看
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jimcmwang
发表于 2014-3-17 13:08:26 | 显示全部楼层
感谢分享  赶紧下来一看
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