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[资料] VLSI测试方法学和可测性设计pdf 资料

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发表于 2012-7-1 10:57:32 | 显示全部楼层 |阅读模式

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这是我在淘宝上买了本书, 在这分享给大家。
ISBN:7121003791
作者: 雷绍充 邵志标 梁峰
出版社:电子工业出版社
上架日期:2005-10-8出版日期:2005-1-1
页数:286     版次:1-1
开本:16开
所属分类:计算机控制与仿真 > VLSI设计
 楼主| 发表于 2012-7-1 11:08:42 | 显示全部楼层
VLSI可测性.part1.rar (9.54 MB, 下载次数: 540 )
 楼主| 发表于 2012-7-1 11:21:56 | 显示全部楼层
本帖最后由 duchuixinhu 于 2012-7-1 11:33 编辑

VLSI可测性.part2.rar (9.54 MB, 下载次数: 549 )

VLSI可测性.part3.rar

9.54 MB, 下载次数: 595 , 下载积分: 资产 -4 信元, 下载支出 4 信元

 楼主| 发表于 2012-7-1 11:32:33 | 显示全部楼层
 楼主| 发表于 2012-7-1 11:49:39 | 显示全部楼层
VLSI可测性.part5.rar (5.43 MB, 下载次数: 364 )

VLSI可测性.part4.rar

9.54 MB, 下载次数: 538 , 下载积分: 资产 -4 信元, 下载支出 4 信元

b

发表于 2012-7-1 15:57:14 | 显示全部楼层
没人要嘛?
发表于 2012-7-1 19:57:04 | 显示全部楼层
我们老板的书,顶下
发表于 2012-8-9 20:18:27 | 显示全部楼层
kankan
发表于 2012-8-30 17:20:47 | 显示全部楼层
正需要
发表于 2012-8-30 17:23:24 | 显示全部楼层
dingyixa
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