请教测试时温度变化引起漏电流变化

feilang6882 · 发表于 2012-4-11 12:35:29

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小弟现在ATE测试memory芯片时，遇到从－40度上升至20，40度时，漏电流在20度会变大一倍，到40度以后下降变平稳，而如果测试环境改为－20度开始上升，不会出现这样的问题。请教各位在－40度开始测试时会引起这样的变化吗？还是我测试环境给的不对？谢谢了

lanting1988 · 发表于 2012-4-20 15:13:19

搭车同问！！

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