朋友们，有提高DFT coverage的好办法没

yinchyang · 发表于 2012-3-17 11:12:27

针对pll, adc， memory这些模块，scan-insertion的时候通常视为black-box, 里面的逻辑是没法测的，这些block的端口以及相关逻辑都没法测。
所谓bypass logic，就是把这些black-box的输入和输出在scan mode下关联起来，做法如下：
1。把所有的输组合成一个向量invector
2。把invector每N个bit一组，异或之后用时钟打一拍，这样得到一个invector_d的向量，
3。假定你的输出为DOUT, 写成 assign DOUT = scan ? { invector_d} : DOUT_org;
其中大括号里面需要把invector_d复制，使得和DOUT_org宽度匹配
再声明一点，在atpg的时候，如果能考虑写memory aptg model, bypass logic也可以不加，不过我做过的项目都加了。当然也用了memory atpg model.

bluray2005 · 发表于 2012-3-17 17:06:47

针对pll, adc， memory这些模块，scan-insertion的时候通常视为black-box, 里面的逻辑是没法测的，这些bloc ...
yinchyang 发表于 2012-3-17 11:12

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谢了啊

cleveland2002 · 发表于 2012-3-20 09:24:46

学习一下

losenobody · 发表于 2019-11-28 10:10:16

mark

zch菲菲 · 发表于 2020-8-15 09:48:41

mark

student2010 · 发表于 2020-8-20 13:44:58

干货！！！

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