在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 2363|回复: 1

高价有偿求助集成回路可测试性设计方面的高手做个小编程

[复制链接]
发表于 2011-12-6 16:53:43 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x

要求:传统LOC测试不考hazard-free,它能检测出的故障集F1.如果考hazard-free就会减少一些测试向量,它能检测出的故障集F2检测出故障集F3=F1-F2)里的故障,必得通过观测点插入跟控制点插入来提高。再我提供的考Hazard-freeATPG程序上修改,您要做的只是在这个程序中加入一些关于控制点跟观测点代来提高故障覆盖率。比如观测点插入法 参考论文:Improving the Transition Fault Coverage of Functional broadside tests by observation point insertion

得可以做的请联QQ 52341000 gemini_happyzk@126.com
具体可以
详谈,只要您能做出来,一切好商量~


 楼主| 发表于 2011-12-7 08:46:26 | 显示全部楼层
顶起 寻找帮助
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-18 02:54 , Processed in 0.081354 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表