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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC验证 › IC验证资料 › JESD标准

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[资料] JESD标准

发表于 2011-11-28 10:57:27 | 显示全部楼层 |阅读模式

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本帖最后由 jingtian0317 于 2011-12-5 10:59 编辑

Stress-Test-Driven Qualification of Integrated Circuits.pdf (457.58 KB, 下载次数: 36 )

Customer Notification of Product_Process Changes by Semiconductor Suppliers.pdf (54.98 KB, 下载次数: 21 )

Early Life Failure Rate Calculation Procedure for Semiconductor Components.pdf (300.49 KB, 下载次数: 29 )

Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices.pdf (1.01 MB, 下载次数: 29 )

FOUNDRY PROCESS QUALIFICATION GUIDELINES(Wafer Fabrication Manufacturing Sites).pdf (263.32 KB, 下载次数: 23 )

Failure-Mechanism-Driven Reliability Monitoring.pdf (142.24 KB, 下载次数: 22 )

Information Requirements for the Qualification of Silicon Devices.pdf (64.73 KB, 下载次数: 23 )

IC Latch-Up Test .pdf (138.13 KB, 下载次数: 36 )

Instrumentation Chip Data Sheet for.pdf (658.94 KB, 下载次数: 23 )

Method for Developing Acceleration Models for Electronic Component Failure Mechanisms.pdf (293.78 KB, 下载次数: 21 )

Methods for Calculating Failure Rates in Units of FITs.pdf (501.95 KB, 下载次数: 25 )

abbr_2d75cbe9e8870f5f335e89cde0806eb4.pdf (175.75 KB, 下载次数: 27 )

JESD46C, JESD659B, JESD69B, JESD74A, JESD78A

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发表于 2011-11-30 00:27:44 | 显示全部楼层

BU CUO , KE XI MEI QIAN LIAO

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发表于 2011-11-30 15:26:37 | 显示全部楼层

latch up test document is good material

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发表于 2018-4-24 05:23:49 | 显示全部楼层

thanks a lot for those.

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发表于 2018-7-3 12:38:32 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享！！！

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发表于 2019-4-24 16:53:01 | 显示全部楼层

谢谢分享

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发表于 2019-8-8 19:01:13 | 显示全部楼层

Thanks♪(･ω･)ﾉ~

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发表于 2021-6-21 12:03:12 | 显示全部楼层

感谢LZ，正好找JESD74A的标准。

另外最后一个没有名字的文件，是J-STD-020D.1-2008文件，即《moisture/reflow sensitivity classfication...》一个潮湿敏感度的可靠性试验。

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