【经典之不能再经典】Reliability Physics Engineering Time-To-Failure Modeling

analogmind · 发表于 2011-11-20 15:40:01

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《Reliability Physics Engineering Time-To-Failure Modeling》
IEEE Fellow and TI senior Fellow - McPherson 的大作。
不管你是circuit designer， quality assurance，production engineering，都应该读读这本书。从作者的背景就可以知道这本书主要讨论的是半导体设计领域的可靠性问题。你的产品能过HTOL/HAST测试吗？除了性能要满足spec之外还需要满足什么要求呢？在可靠性方面没有什么sign-off工具能够帮你tapeout前把关产品的可靠性。所以这种品质来自于设计者在芯片设计时候的考量。

sdustyj · 发表于 2011-11-20 20:35:33

sf，刚知道有个可测性设计，又来个可靠性设计，学海无涯

darklord1111 · 发表于 2011-11-20 23:40:37

同感，感觉搞设计，就是无底洞~累

chlliu · 发表于 2011-11-21 15:14:11

太好了, 谢谢楼主.

cwt · 发表于 2011-11-21 15:52:02

Thank you very much

jamesccp · 发表于 2011-11-21 18:44:10

必备的基础知识

ysliu168 · 发表于 2011-11-22 10:22:28

Thanks!

haobx · 发表于 2011-11-22 10:36:25

XIEXIE

geneicz · 发表于 2011-11-22 11:19:12

thank you

chenxiaoming · 发表于 2011-11-22 12:02:43

shouxiale

[资料] 【经典之不能再经典】Reliability Physics Engineering Time-To-Failure Modeling

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