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[转贴] (别的论坛转过来的)分享下10月份面试ST和MTK关于版图方面的问题

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发表于 2011-11-8 16:58:08 | 显示全部楼层 |阅读模式

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像原作者致敬:
1.Latch-up正反馈回路的原理介绍

2.电源(power)与阱连接时要用NSD过渡是为了减小寄生电阻形成欧姆接触,为什么要减小寄生电阻

3.使用那些方法使得版图面积最小化

4.ERC验证都有那些常见问题,你是怎么解决的

5.版图中都有哪些层次,按照工艺步骤列举出来

6.IC Layout Design流程

7.如果ADC版图画完后跑验证时老是有问题,怎么办

8.介绍自对准工艺

9.Bicmos工艺流程

10.分别介绍ESD的几种model,并说明哪些model原理可以归为一类

11.带隙基准里面哪些模块是最重要的,你是怎么处理的

12.ADC中哪些是噪声源,哪些是敏感源,你是怎样布局各个模块的,为什么要这么布局

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给大家一个参考,我也是穷人过来的,不做文档,不收钱。

发表于 2011-11-8 22:57:17 | 显示全部楼层
1.Latch-up是种容易烧芯片的东东,好像是容易让静电毁坏电路??
哎。我百度了这些问题的答案,好难啊~
发表于 2011-11-9 00:23:44 | 显示全部楼层
1.Latch-up正反馈回路的原理介绍
  教材上都有,从一个点有噪声开始推导,得到电流趋于无限大,直到电路不正常工作。但是并不是latch-up就会导致电路损坏。
  
2.电源(power)与阱连接时要用NSD过渡是为了减小寄生电阻形成欧姆接触,为什么要减小寄生电阻
  减小连线上的压降。如果压降过大,可能导致阱电压不是最高电压,当衬底有噪声尖峰,导致阱与衬底二极管导通,形成漏电流。
3.使用那些方法使得版图面积最小化
  不太清楚。将MOS画为多finger,叉指结构可以减小面积,电阻用蛇形。电容当容值要求不是太精确(例如电源去耦)可以用MOM、MOS电容等减小面积
4.ERC验证都有那些常见问题,你是怎么解决的
  只知道可能出现软连接错误
5.版图中都有哪些层次,按照工艺步骤列举出来
  看教材
6.IC Layout Design流程
  看教材
7.如果ADC版图画完后跑验证时老是有问题,怎么办

8.介绍自对准工艺
  看教材
9.Bicmos工艺流程
  看教材
10.分别介绍ESD的几种model,并说明哪些model原理可以归为一类
   HBM、MM、CDM。前两种可以归为一类,都是外界带电,CDM为器件自身积累电荷
11.带隙基准里面哪些模块是最重要的,你是怎么处理的
   不太清楚。放大器的输入失调电压、电阻和三极管的匹配
12.ADC中哪些是噪声源,哪些是敏感源,你是怎样布局各个模块的,为什么要这么布局
   不太清楚。噪声源主要是开关电容切换、电荷注入等。敏感源是基准(针对内置基准的ADC来说)

点评

latch up原理从寄生三极管与电阻构成的可控硅器件开始  发表于 2023-12-12 16:37
发表于 2011-11-10 14:14:17 | 显示全部楼层
楼上的是高人啊,谢谢了,还有完整版没?
发表于 2011-11-10 14:17:43 | 显示全部楼层
回复 1# tuohong
别的论坛是关于layout的论坛吗?可否分享下!
发表于 2011-11-11 18:01:04 | 显示全部楼层
本帖最后由 peterlin2010 于 2011-11-11 18:03 编辑

1.Latch-up正反馈回路的原理介绍=> 一般是看你 p -> n -> p-n  是否有 類似 方式
   一般都是 well 內電阻   要layout 開些 增加電阻 , 或是 pick-Up 多打點 讓 well
如 N_well 到 高壓下 降低 pn pn  被 trig 到 .

2.电源(power)与阱连接时要用NSD过渡是为了减小寄生电阻形成欧姆接触,为什么要减小寄生电阻
IR drop 會對 一些 logic 有影想
analog 內還是有一堆 counter  如果有 Ir drop ..因為一般 analog design 是沒加 clock buffer 類
可能 有 skew  或是 power delay會讓 logic cell 動做變差

如果是 analog 有些 流大電流 contact 電阻 都須要算下去 .

3.使用那些方法使得版图面积最小化
可 min size 用 min ... 還有先把同 電位   或是 有 floating well plan 先排好 .
一般還有 偷 rule  特別是高壓 ..如 40v ..你只到 20v  可偷 HV-p  HV-N 間 space


4.ERC验证都有那些常见问题,你是怎么解决的

5.版图中都有哪些层次,按照工艺步骤列举出来

6.IC Layout Design流程

7.如果ADC版图画完后跑验证时老是有问题,怎么办
這是說 抽 post netlist => run post-sim 嗎 ??
一般 A/D  如果拿 layout 來說  mismatch layout 看不太出來 ..除非 layout 差很多
比較長看到是 R-C delay 太大吧 .

如我是 flash A/D ..一堆 comp 輸出 有不同 path  不同 delay 下 , output code 會有亂跳
須要後端加 bubble logic /thermal code encode .

8.介绍自对准工艺

9.Bicmos工艺流程

10.分别介绍ESD的几种model,并说明哪些model原理可以归为一类

11.带隙基准里面哪些模块是最重要的,你是怎么处理的

12.ADC中哪些是噪声源,哪些是敏感源,你是怎样布局各个模块的,为什么要这么布局
发表于 2012-7-19 16:08:38 | 显示全部楼层
回复 1# tuohong


    多谢楼主分享!
发表于 2012-7-20 11:22:03 | 显示全部楼层
回复 1# tuohong


   还好,能回答大部分问题,几个不太清楚地应该也能糊弄过去。
发表于 2013-3-14 15:04:21 | 显示全部楼层
谢谢分享
发表于 2013-3-17 13:08:15 | 显示全部楼层
楼主真厉害
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