求助：CAPLESS LDO 的IP测试问题

fishbone53 · 发表于 2011-9-19 19:36:20

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设计了一个CAPLESS LDO 的IP，仿真结果表明外接能承受最大20P的负载，由于将输出极点作为次主极点，因此外接电容大了以后，次主极点向带宽内移动，导致大于20P以后输出出现振荡。

本来小于20P的负载也是满足设计要求的。但是由于我做的是IP，需要流片会来单独外加示波器测，而示波器探头带有几十P甚至上百P的寄生电容，因此如果用示波器测量的话输出必然振荡了。

各位大侠有没有什么法子解决这个问题呢？或者怎么隔离掉这个示波器的探头上的寄生影响呢？不甚赐教！

jerykot · 发表于 2011-9-19 22:01:33

如果这种寄生参数不考虑进去
那做capless LDO 也没用了。
封装，应用时存在各种寄生。要考虑全一点。

maplefire · 发表于 2011-9-20 08:57:24

在输出加个buffer就行了。

zjzhang1124 · 发表于 2011-9-20 10:35:44

20P 负载就振荡的LDO 没必要测试了，没有啥价值

semico_ljj · 发表于 2011-9-20 12:10:47

Capless 实际要求是负载从几P~1u都能稳定才是好的

guowang99 · 发表于 2011-9-20 15:25:08

20p确实小了点，怎么也要保证nF级别的负载电容稳定性。楼上说在1uF的capless都能稳定，可不可以给介绍一下做法，谢啦。

samuelyou · 发表于 2011-9-21 14:57:30

我很奇怪，为什么你的LDO,>20p就不稳定了，不知道你的架构如何，但是输出几点移动在LDO设计中是不可避免的，要有适当的补偿电路才能完成设计

ludashen · 发表于 2011-9-22 14:23:34

20pf，太小了

mk2003 · 发表于 2011-9-22 20:17:18

capless 至少0-100或者200p没问题才行。

fishbone53 · 发表于 2011-9-23 08:52:32

OK,谢谢大家，当初为了追求大带宽，所以做小了，现在做到了可带载300P

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