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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Test coverage improvement for DFT
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楼主: gangersun

[资料] Test coverage improvement for DFT

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flmwdz
发表于 2012-3-19 13:06:57 | 显示全部楼层
ok 3q
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501xyz501
发表于 2012-3-22 10:10:31 | 显示全部楼层
回复 1# gangersun


    多谢分享。
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zhoufawang_tju
发表于 2012-4-17 22:02:00 | 显示全部楼层
谢谢。挺好的东西
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Syn2012
发表于 2012-5-1 11:30:03 | 显示全部楼层
学习了，谢谢！
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uso23238404
发表于 2012-6-6 16:48:17 | 显示全部楼层
Thank you very much.
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yuanpin318
发表于 2012-6-12 14:17:03 | 显示全部楼层
thank you very much
EETOP创芯人才网职位发布入口
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kevinsun
发表于 2013-4-21 11:57:57 | 显示全部楼层
回复 1# gangersun


   very good , that is the right thing for me!!
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gp7626660
发表于 2013-11-27 00:48:48 | 显示全部楼层
谢谢。真的有用
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yesterdaymore
发表于 2014-11-22 00:23:28 | 显示全部楼层
下来看看
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zhangbchao
发表于 2014-12-19 10:10:30 | 显示全部楼层
学习学习~感谢~
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