Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices

alexanderli95 · 发表于 2011-7-27 17:01:59

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

×

JEDEC关于 Reliability方面的资料

详细介绍EM, Corrosion, TDDB, HCI, SM, TC, TK, etc 相关的Model和Mechanism

jep122a.pdf (1.56 MB , 下载次数: 229 )

azaki200 · 发表于 2011-9-5 07:57:24

thanks

luan12345678 · 发表于 2011-9-9 20:46:34

非常感谢

postme · 发表于 2012-6-25 09:45:44

还是非常有用的

howardsky · 发表于 2012-6-26 16:58:08

好东西！

chlliu · 发表于 2012-6-28 11:02:29

谢谢共享。

ghostrun1 · 发表于 2012-7-5 23:46:11

回复 1# alexanderli95

This is a good material.

2002199 · 发表于 2012-7-7 18:47:56

好东西!

地瓜干饭 · 发表于 2014-11-15 17:52:51

感谢分享

jasonarmwang · 发表于 2016-9-11 17:01:09

thanks for you sharing the material

账号		自动登录	找回密码
密码			注册

[资料] Failure Mechanisms and Models for Semiconductor Devices