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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › Analog/RF IC 设计 › Analog/RF IC 设计讨论 › cadence 中如何在不同工艺角下进行参数扫描 ...
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楼主: liuleiabc

[求助] cadence 中如何在不同工艺角下进行参数扫描

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ol0930
发表于 2020-7-23 16:26:55 | 显示全部楼层
IC 615 下
1、ADE L的Tools-parametric Analysis(可以导出为ocean脚本)
2、ADE XL 全局变量global variables可以设置多个值
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刘兴国
发表于 2021-11-9 17:12:51 | 显示全部楼层
ADEXL中设置corner时，变量的值可以右键选出Set Sweep/Value选项，可以给一个范围进行扫描。
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回复 支持 8 反对 0

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Halsone
发表于 2024-6-5 22:10:48 | 显示全部楼层
学习一下
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