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楼主: gasvapour

[求助] 请教一下osc中phase noise和jitter

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发表于 2023-8-9 10:19:44 | 显示全部楼层
thnask
发表于 2024-4-24 17:05:31 | 显示全部楼层
我对Ring Oscillator中的jitter的一些理解
关于Hajimiri论文Jitter and Phase Noise in Ring Oscillators的读后总结

  P=N*Itail*VDD   (31)
      (35)
把式(31)代入式(35)得
      (35a)(我自己的推导)
(Word 公式无法上载)
我看了这篇文章,得到观点如下:
假定我们只考虑差分结构Ring Oscillator
1.jitter与沟道长度有关:沟道越长,jitter越小。主要是garmma的影响。
2.jitter与级数关系:jitter与级数无关。参见式(35a),可以把级数N消去。
3.jitter与功耗关系:Itail越大,jitter越小。参见(35a)。与总功耗无关,而是与单级功耗有关。
4.jitter与信号幅度关系:信号幅度(RL*Itail)越大,jitter越小。
5.jitter与电路工作点关系:Over driver Voltage(Vchar)越大,则噪声越小。
6.jitter 与VDD的关系:没有关系,因为jitter仅与振荡幅度有关。只不过VDD大,允许的振荡幅度大,VDD小,允许的振荡幅度小。
7.如果输出波形对称,则phase noise或jitter的主要成分是THERMAL noise,这个THERMAL noise来自沟道电流和负载电阻。事实上,如幅度(RL*Itail)一定,增大电流,则要减小电阻,效果是一样的。但是,同时Itail在分母是平方,所以增大电流还是能较少jitter。
8.如果输出波形不过对称,则1/f noise 对jitter有较大贡献。此1/f来自两个方面。一是Itail,另一个是差分对,包括增益级和负载级。论文认为在振荡中心频率附近1/f noise 和THERMAL noise对jitter没有贡献,而是在低频端有贡献。低频端的贡献是因为频率调制。假设振荡器工作在某一频率,而这一频率正比与尾电流Itail,由于低频噪声的影响,Itail在低频有一定变化分量,这一变化分量必定反映到振荡频率上。实际上,尾电流的噪声对振荡频率的影响相当于一个混频器。低频的噪声与高频的振荡频率相乘,则低频噪声被叠加进振荡频率两侧。如果是高频噪声,比如振荡频率附近,相乘后为直流附近和2倍振荡频率附近,因为不满足振荡条件,则被衰减,所以影响较小。低频噪声对增益级及负载级的影响可以通过类比尾电流噪声来分析。
9.对论文中实测数据分析
9.1相同功耗,级数,负载;不同的差分管大小及振荡频率,则是频率越低,噪声越小。可对比样本(13,14,20,22)。
9.2 总功耗相同,级数大,噪声小。参见样本(24,25,26)。与结论2矛盾。
9.3 相同的管子大小,级数;相应的负载与功耗,频率变化。输出噪声不定。参见样本(13,16)和样本(15,18,20,21,23)

结合自己认识,对以上观点的一些讨论:
1.    jitter与级数的关系:这个关系十分复杂。从振荡器理论来说,假定每级噪声一定,级数大,环路增益大,则相应的噪声会大。但是,Ring Oscillator的Q值(或类似Q值的量)与级数的关系未知。Q值大,则噪声小;Q值小,则噪声大。参见上述的结论2及9.2,可见二者有些矛盾。
2.    振荡的幅度不可能做得很对称,因为NMOS与PMOS不可能做得很匹配。因此1/f 噪声还是很可观的。这要求减小控制尾电流管子的增益,增加此管子的面积。
3.    在振荡频率中心及附近的1/f 噪声和热噪声对Phase Noise和Jitter是有贡献的,因为振荡源就是这些噪声,只不过频率接近,对较远处(此论文中的1MHZ)没有影响而已。
4.    对Ring Oscillator 的Q值的一些探讨。Q值就是一个选通回路的带宽的倒数。Q值越大,带宽越小。对于一个稳态环路,闭环增益必定为单位增益,否则幅度就会变化。但是,选通回路的形状是不改变的(通常为无源器件),增益改变主要通过有源器件的非线性。假设振荡器振荡在选通回路中心,则整个环路,此点增益最高,其它各点增益,将按照选通回路的形状衰减。对比Ring Oscillator,同样存在这样一个选通回路,就是延迟。假定选通回路形状不变(也许不成立),则认为振荡中心点频率的信号增益为1,其它各点频率信号的增益将按照选通回路形状衰减下去。由此可见,级数越多,增益越大,Q值就越高。这里有两方面的影响。一是环路增益变大,噪声变大,二是Q值变高,噪声变小。二者的综合影响,要进一步分析。
5.    在我的仿真中,发现低频段相位噪声的影响较大。在1G Hz振荡频率,我比较过两个MODEL,一个1/f noise比较大,THERMAL 较小;另一个1/f noise较小,THERMAL noise较大。在10-1kHz,前者的噪声较小;在1k-10g Hz,后者噪声较小。最后计算10-10MHZ的jitter时,发现前者前者的jitter较小。由此推论,在较低频段10-1k,噪声主要来源于THERMAL noise,在中间频段(1k-10Mhz),噪声主要来自1/f noise。高于10MHZ噪声这里不考虑。因此,优化jitter设计,则要求Ring oscillator有较低的低频段噪声。也就是说,热噪声要小。当然,1/f noise对jitter也有较大贡献,也需要小。
发表于 2024-4-26 14:20:02 | 显示全部楼层
我对Ring Oscillator中的jitter的一些理解
关于Hajimiri论文Jitter and Phase Noise in Ring Oscillators的读后总结

  P=N*Itail*VDD   (31)
      (35)
把式(31)代入式(35)得
      (35a)(我自己的推导)
(Word 公式无法上载)
我看了这篇文章,得到观点如下:
假定我们只考虑差分结构Ring Oscillator
1.jitter与沟道长度有关:沟道越长,jitter越小。主要是garmma的影响。
2.jitter与级数关系:jitter与级数无关。参见式(35a),可以把级数N消去。
3.jitter与功耗关系:Itail越大,jitter越小。参见(35a)。与总功耗无关,而是与单级功耗有关。
4.jitter与信号幅度关系:信号幅度(RL*Itail)越大,jitter越小。
5.jitter与电路工作点关系:Over driver Voltage(Vchar)越大,则噪声越小。
6.jitter 与VDD的关系:没有关系,因为jitter仅与振荡幅度有关。只不过VDD大,允许的振荡幅度大,VDD小,允许的振荡幅度小。
7.如果输出波形对称,则phase noise或jitter的主要成分是THERMAL noise,这个THERMAL noise来自沟道电流和负载电阻。事实上,如幅度(RL*Itail)一定,增大电流,则要减小电阻,效果是一样的。但是,同时Itail在分母是平方,所以增大电流还是能较少jitter。
8.如果输出波形不过对称,则1/f noise 对jitter有较大贡献。此1/f来自两个方面。一是Itail,另一个是差分对,包括增益级和负载级。论文认为在振荡中心频率附近1/f noise 和THERMAL noise对jitter没有贡献,而是在低频端有贡献。低频端的贡献是因为频率调制。假设振荡器工作在某一频率,而这一频率正比与尾电流Itail,由于低频噪声的影响,Itail在低频有一定变化分量,这一变化分量必定反映到振荡频率上。实际上,尾电流的噪声对振荡频率的影响相当于一个混频器。低频的噪声与高频的振荡频率相乘,则低频噪声被叠加进振荡频率两侧。如果是高频噪声,比如振荡频率附近,相乘后为直流附近和2倍振荡频率附近,因为不满足振荡条件,则被衰减,所以影响较小。低频噪声对增益级及负载级的影响可以通过类比尾电流噪声来分析。
9.对论文中实测数据分析
9.1相同功耗,级数,负载;不同的差分管大小及振荡频率,则是频率越低,噪声越小。可对比样本(13,14,20,22)。
9.2 总功耗相同,级数大,噪声小。参见样本(24,25,26)。与结论2矛盾。
9.3 相同的管子大小,级数;相应的负载与功耗,频率变化。输出噪声不定。参见样本(13,16)和样本(15,18,20,21,23)

结合自己认识,对以上观点的一些讨论:
1.    jitter与级数的关系:这个关系十分复杂。从振荡器理论来说,假定每级噪声一定,级数大,环路增益大,则相应的噪声会大。但是,Ring Oscillator的Q值(或类似Q值的量)与级数的关系未知。Q值大,则噪声小;Q值小,则噪声大。参见上述的结论2及9.2,可见二者有些矛盾。
2.    振荡的幅度不可能做得很对称,因为NMOS与PMOS不可能做得很匹配。因此1/f 噪声还是很可观的。这要求减小控制尾电流管子的增益,增加此管子的面积。
3.    在振荡频率中心及附近的1/f 噪声和热噪声对Phase Noise和Jitter是有贡献的,因为振荡源就是这些噪声,只不过频率接近,对较远处(此论文中的1MHZ)没有影响而已。
4.    对Ring Oscillator 的Q值的一些探讨。Q值就是一个选通回路的带宽的倒数。Q值越大,带宽越小。对于一个稳态环路,闭环增益必定为单位增益,否则幅度就会变化。但是,选通回路的形状是不改变的(通常为无源器件),增益改变主要通过有源器件的非线性。假设振荡器振荡在选通回路中心,则整个环路,此点增益最高,其它各点增益,将按照选通回路的形状衰减。对比Ring Oscillator,同样存在这样一个选通回路,就是延迟。假定选通回路形状不变(也许不成立),则认为振荡中心点频率的信号增益为1,其它各点频率信号的增益将按照选通回路形状衰减下去。由此可见,级数越多,增益越大,Q值就越高。这里有两方面的影响。一是环路增益变大,噪声变大,二是Q值变高,噪声变小。二者的综合影响,要进一步分析。
5.    在我的仿真中,发现低频段相位噪声的影响较大。在1G Hz振荡频率,我比较过两个MODEL,一个1/f noise比较大,THERMAL 较小;另一个1/f noise较小,THERMAL noise较大。在10-1kHz,前者的噪声较小;在1k-10g Hz,后者噪声较小。最后计算10-10MHZ的jitter时,发现前者前者的jitter较小。由此推论,在较低频段10-1k,噪声主要来源于THERMAL noise,在中间频段(1k-10Mhz),噪声主要来自1/f noise。高于10MHZ噪声这里不考虑。因此,优化jitter设计,则要求Ring oscillator有较低的低频段噪声。也就是说,热噪声要小。当然,1/f noise对jitter也有较大贡献,也需要小。
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