数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计（影印版）

alan_kdu_345 · 发表于 2010-12-31 10:29:31

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Design-for-Test记for Digital IC’s and处Embedded Core Systems
（1999 Alfred L. Crouch）

creese · 发表于 2010-12-31 10:42:44

谢谢楼主。
我发一个本书介绍做为补充吧：

本书论述集成电路与嵌入式数字系统的测试技术，提出许多重要且关键的解决方案。针对目前在测试中遇到的实际问题，从技术有产品的投资成本上论述嵌入内核和soC的测试问题。
本书适合作为高等院校相关专业本科生、研究生的教材或参考书，也可供相关专业技术人员参考。

Alfred L. Crouch毕业于肯塔基大学，获电气工程学硕士学位（MSEE）。他曾先后供职于德州仪器、数字设备公司以及摩托罗公司，长期从事测试设计、测试自动化以及计算机辅助测试的工作。他在若干IEEE出版物、E-Timers以及专业杂志发表过大量文章，是IEEE会员。他拥有9个美国专利，主要是测试相关的发明专利，如逻辑内建自测试、存诸器内建自测试、扫描结构、扫描优化、低功耗测试以及全速扫描

creese · 发表于 2010-12-31 10:47:51

你发错了吧，这个不是影印版的，好像是一堆PPT。里面全是图，没有什么解释说明的文字

chibijia · 发表于 2010-12-31 11:19:49

我还以为是中文版的呢？
不过还是谢谢楼主?

alan_kdu_345 · 发表于 2010-12-31 11:23:08

多谢creese 的介绍，我搞错了，这是一个PPT。能修改吗？

alan_kdu_345 · 发表于 2010-12-31 12:07:48

附PDG格式文件，我现在也打不开。好象是过期了，不知道有没有人能打开，可以试一下。

mtwumtwu · 发表于 2010-12-31 13:56:54

good reference for IC design

qwe29 · 发表于 2010-12-31 14:23:54

好书,谢谢楼主.大公司用systemc的比较多?

zh123456789 · 发表于 2011-1-1 22:18:17

谢谢啊

nslnsl · 发表于 2011-1-1 22:21:53

xiexie!!!

[资料] 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计（影印版）

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