什么是wafer测试？

shuifurong520 · 发表于 2010-12-7 08:53:35

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麻烦请教下什么是wafer测试？什么是TCOS、PCOS测试？是如何实现的？

shuifurong520 · 发表于 2010-12-7 13:49:46

这个问题很弱智奥，不过我真的是测试新手，wafer测试是晶圆测试，在中测阶段，是将晶圆测试仪的探针与管芯的压焊快相连，在输入端施加测试程序，主要是对直流参数、交流参数和功能进行测试！那有哪位大侠知道随机数产生器在wafer测试时该如何测试？作为RNG设计者随机数产生器的测试应该测试什么参数？

charles2000k · 发表于 2010-12-7 16:26:49

thantks.

charles2000k · 发表于 2010-12-7 16:44:58

good. good.

shuj102 · 发表于 2010-12-8 19:43:34

是package之前的芯片测试，封装之后有的脚没有了

vanxifun1982 · 发表于 2010-12-8 22:45:02

学习了。

flywind7 · 发表于 2010-12-18 20:58:18

COS：Chip OS，片上系统，单指接触或者非接触的IC上的系统。
TCOS：Test Chip OS，测试用片上系统。IC卡芯片测试时，内部程序要有自测的过程，这个过程由读卡器和芯片内部的TCOS程序共同完成。
PCOS：我们一般称之为应用片上系统（该怎么翻译还需要高人指点），为满足实际应用的片上程序。

creese · 发表于 2010-12-24 10:41:15

回复 2# shuifurong520

中测阶段主要是对生产过程中的缺陷进行测试，所以一般不进行功能性测试。对于logic部分主要是scan和bist，而不会对随机数产生器这样的具体功能进行测试，如果你非要进行这样的模块功能测试则需要进行相应的DFT,一种方式是在设计时分配管脚，将产生的随机数引出来，同时需要有test pattern进行核对。

lichtenlade · 发表于 2010-12-29 11:10:47

test pattern可以由vcd文件生成
然后用xml语言导入测试

xlteam2 · 发表于 2011-5-11 09:38:39

very good

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