在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
芯片精品文章合集(500篇!) 创芯人才网--重磅上线啦!
查看: 2660|回复: 0

[原创] SIL3等级安全认证功能设计,DDR的检测方式

[复制链接]
发表于 2010-11-29 21:19:12 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
各位达人,帮忙回答个问题,我现在进行一个SIL3等级的安全设计,需要对DDR进行检测,所以采用了带ECC的MPC,但是MPC中的ECC部分需要进行周期性测试,比如人为的在DDR中存入错误数据,然后ECC计算出正确结果或者进行报错;但是此类方法如何具备可操作性,哪位达人有这方面的经验或方法提示一下,不胜感谢!
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-12-22 20:10 , Processed in 0.016398 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表