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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › VLSI测试方法学和可测性设计
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楼主: eric_1024

[资料] VLSI测试方法学和可测性设计

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zsf1986
发表于 2010-11-5 11:12:29 | 显示全部楼层
现在芯片测试也是很吃香啊！！
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qiantianyiqian
发表于 2010-11-17 09:25:11 | 显示全部楼层
ding...........................
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fanghong58
发表于 2010-12-8 12:03:56 | 显示全部楼层
我不要ppt啊~！！
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l_junhao
发表于 2010-12-10 13:37:24 | 显示全部楼层
谢过啊，需要啊
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nslnsl
发表于 2010-12-11 13:08:35 | 显示全部楼层
好多啊 ！！！
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guozhen870222
发表于 2011-6-1 16:31:37 | 显示全部楼层
顶啊！！！
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shaoqingtju
发表于 2011-9-17 11:21:37 | 显示全部楼层
那么难的的东西，一定要看看
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ywkai
发表于 2011-10-7 11:26:42 | 显示全部楼层
谢谢，非常有用
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ivancsz
发表于 2011-10-14 15:11:40 | 显示全部楼层
thanks.........
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autumnyun
发表于 2011-11-11 13:14:37 | 显示全部楼层
太感谢了
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