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[求助] 大虾指教:在DC中插入扫描链后,多出来data_source和test_mode端口是什么用途?

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发表于 2010-7-10 15:36:37 | 显示全部楼层 |阅读模式

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rt。。。。
发表于 2010-7-11 13:44:56 | 显示全部楼层
data_source应该就是测试图形的输入端口吧,test_mode是用来选择扫描连测试用的。在具体芯片中需要与外部的功能引脚进行mux
 楼主| 发表于 2010-7-11 15:52:03 | 显示全部楼层
但令我迷糊的是:最终综合的电路显示,data_source、clk和test_mode一起接入到一个mux,然后mux的输出送到了触发器的clk端口。data_source应该被当做了测试时钟来用了,怎样将这个端口给去掉呢?
发表于 2010-7-16 15:00:54 | 显示全部楼层
那是因为你的时钟不可控,工具作了时钟的autofix,使得在测试时,时钟可以通过芯片的端口直接控制。你可以手动修复这个违规,解决方法要看具体的电路。比如是综合出来的门控电路,可以用SE或TM(即test_mode)信号旁路使能;如果是时钟源不可控,就得像你说的那样加MUX旁路时钟。
发表于 2010-7-16 15:58:32 | 显示全部楼层
本帖最后由 yohuang 于 2010-7-18 11:36 编辑

楼上说的有道理,scan design rule里面要求所有的flip-flop clocks must be controllable from primary inputs.如果你的flip-flop的clock是gated-clock那么flip-flop就不能直接被primary input控制了,所以可能会形成你说的问题。
发表于 2010-7-17 14:46:51 | 显示全部楼层
我不认同楼上的这种处理方法。因为插入门控器件有两个目的,一个是省电,一个是省面积。只有符合一定个数(比如说三个以上)的寄存器组才会使用门控时钟。如果为了寄存器的时钟可控,而将门控时钟去掉,那不是捡了芝麻丢了西瓜吗?DFT文档里有介绍处理的方法,即是用SE和你所画电路的D2端相或后和时钟相与,这样就可以把D2旁路掉,从而实现时钟可控。
发表于 2010-7-19 11:24:29 | 显示全部楼层
学习了!
发表于 2010-7-20 14:13:13 | 显示全部楼层
帮顶了
发表于 2011-5-24 04:15:59 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2014-3-8 10:39:36 | 显示全部楼层
路过,学习~
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