电子元器件可靠性试验工程-中文书籍

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cmk85

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yuejinxu

好书，先下载了，谢谢！

Jason.tschen

dear Big brother

I just faced to the " reliability issue "
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by the way , do you have the following list books that target to " reliability "
电子元器件可靠性试验工程
•  作者： 王蕴辉    于宗光    孙再吉   
•  丛书名： 电子可靠性工程技术实践丛书
•  出版社：科学出版社
•  ISBN：9787030196385
•  上架时间：2007-10-9
•  出版日期：2007 年9月
•  开本：16开
•  页码：514
•  版次：1-1
RMB49

电子产品可靠性预计
•  作者：张增照;潘勇 [同作者作品]
•  丛书名： 电子可靠性工程技术实践丛书
•  出版社：科学出版社
•  ISBN：9787030194664
•  上架时间：2007-9-7
•  出版日期：2007 年8月
•  开本：16开
•  页码：154
RMB25


电子元器件可靠性技术教程
•  作者： 付桂翠    陈颖    张素娟    高成    孙宇锋   
•  丛书名： 普通高校“十一五”规划教材
•  出版社：北京航空航天大学出版社
•  ISBN：9787512401365
•  上架时间：2010-8-17
•  出版日期：2010 年7月
•  开本：16开
•  页码：273
RMB35


温度对微电子和系统可靠性的影响
•        原书名： Influence of Temperature on Microelectronics System Reliability
•        原出版社： CRC-Press
•        作者： (美)Pradeep Lall    Michael G. Pecht    Edward B. Hakim   
•        出版社：国防工业出版社
•        ISBN：9787118054842
•        上架时间：2008-8-11
•        出版日期：2008 年7月
•        开本：16开
•        页码：218
RMB32

liuzhieetop

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lijun0800

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lijun0800

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