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EETOP诚邀模拟IC相关培训讲师 创芯人才网--重磅上线啦!
楼主: A1985

[原创] 电子元器件可靠性试验工程-中文书籍

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发表于 2010-9-11 22:34:40 | 显示全部楼层
发表于 2010-9-11 22:37:17 | 显示全部楼层
发表于 2010-9-11 22:40:01 | 显示全部楼层
发表于 2010-9-11 22:42:47 | 显示全部楼层
发表于 2010-9-19 18:11:19 | 显示全部楼层
谢谢共享!!!
发表于 2010-9-22 17:27:36 | 显示全部楼层
好书,先下载了,谢谢!
发表于 2010-9-22 18:56:27 | 显示全部楼层
dear Big brother

I just faced to the " reliability issue "
I am very appreciated your post , you give me a big hand , thanks
by the way , do you have the following list books that target to " reliability "
电子元器件可靠性试验工程
•  作者: 王蕴辉    于宗光    孙再吉   
•  丛书名: 电子可靠性工程技术实践丛书
•  出版社:科学出版社
•  ISBN:9787030196385
•  上架时间:2007-10-9
•  出版日期:2007 年9月
•  开本:16开
•  页码:514
•  版次:1-1
RMB49

电子产品可靠性预计
•  作者:张增照;潘勇 [同作者作品]
•  丛书名: 电子可靠性工程技术实践丛书
•  出版社:科学出版社
•  ISBN:9787030194664
•  上架时间:2007-9-7
•  出版日期:2007 年8月
•  开本:16开
•  页码:154
RMB25


电子元器件可靠性技术教程
•  作者: 付桂翠    陈颖    张素娟    高成    孙宇锋   
•  丛书名: 普通高校“十一五”规划教材
•  出版社:北京航空航天大学出版社
•  ISBN:9787512401365
•  上架时间:2010-8-17
•  出版日期:2010 年7月
•  开本:16开
•  页码:273
RMB35


温度对微电子和系统可靠性的影响
•        原书名: Influence of Temperature on Microelectronics System Reliability
•        原出版社: CRC-Press
•        作者: (美)Pradeep Lall    Michael G. Pecht    Edward B. Hakim   
•        出版社:国防工业出版社
•        ISBN:9787118054842
•        上架时间:2008-8-11
•        出版日期:2008 年7月
•        开本:16开
•        页码:218
RMB32
发表于 2010-9-25 20:10:09 | 显示全部楼层
thank you
发表于 2010-10-14 09:34:27 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2010-10-14 09:37:45 | 显示全部楼层
download part2,thanks
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