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1. 可以的通过MC仿真,别的只能仿真出系统性失配 2. 那个公式其实已经很好用了,工艺的变化,Tox就跟着变化。 MC只不过能给出更具体的量。 stoneduan 发表于 2010-4-24 22:18 登录/注册后可看大图
谢谢您的解答! 也就是说:1 关于工艺的随机适配,Spectre默认是理想状态,无法仿真?只能通过MC? 2 还有个疑问:按照MC仿真的说法,失调电压应该是个平均值为0的高斯分布函数,遵从6sigma,但是那个公式得出的 ... forever6269 发表于 2010-4-25 20:35 登录/注册后可看大图
你就当那个确定的数值为1个sigma吧,好像事实也就是如此。 gggsilicon 发表于 2010-4-26 13:27 登录/注册后可看大图
7# forever6269 检 检查你的model工艺库里是否有mismatched model,如果有,就可以做MC仿真 此外请问stoneduan,一般你的测试结果(批量或者测试片)和理论公式会偏离多少?恳请不吝赐教 Alvays alvays 发表于 2010-4-26 18:12 登录/注册后可看大图
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