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楼主: haiwind009

[资料] Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

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发表于 2011-3-3 18:28:11 | 显示全部楼层
It is good for me
发表于 2011-4-13 10:52:42 | 显示全部楼层
很好,谢谢分享,这对做设计也很有用
发表于 2011-5-23 11:38:43 | 显示全部楼层
谢谢分享!!!
发表于 2011-5-26 02:19:59 | 显示全部楼层
Thanks for your infromation..............
Thanks............................................
发表于 2011-5-26 05:30:45 | 显示全部楼层
回复 1# haiwind009


    good book. thanks for sharing
发表于 2011-6-16 11:04:27 | 显示全部楼层
thanks for sharing
发表于 2011-6-16 22:05:33 | 显示全部楼层
Thanks very much
发表于 2012-2-18 11:13:31 | 显示全部楼层
回复 1# haiwind009


    Thanks!
发表于 2012-3-11 08:47:47 | 显示全部楼层
Thanks for this sharing!! It's a good book for device reliability check!
发表于 2012-7-16 14:47:14 | 显示全部楼层
Thanks
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