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请问中测,成测是什么意思?

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发表于 2009-12-10 11:43:29 | 显示全部楼层 |阅读模式

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请问中测,成测是什么意思?具体是怎么进行的?除了这两个芯片还要进行哪些测试阶段呢?
发表于 2009-12-10 13:02:57 | 显示全部楼层
中测是wafer测试,,成测是封装后的测试
 楼主| 发表于 2009-12-11 20:17:31 | 显示全部楼层
Thanks
发表于 2009-12-22 16:55:09 | 显示全部楼层
学习了……
发表于 2009-12-22 19:03:33 | 显示全部楼层
恩,我以前也不清楚,谢谢了
发表于 2009-12-27 11:35:59 | 显示全部楼层
好多测试啊
发表于 2009-12-27 12:55:59 | 显示全部楼层
发表于 2010-1-2 16:49:12 | 显示全部楼层
封装后测试一般要关注那些要点,高手指点一下
 楼主| 发表于 2010-9-13 18:11:33 | 显示全部楼层
就我目前所了解的情况,对于逻辑部分封装后测试主要是测试在封装过程中产生的对die的损伤,此外还要测pad的功能。
测逻辑部分还是用scan,只不过是从pad上输入和输出信号。
测pad比较理想的方法是模拟实际使用情况的pattern,但是也用加电压测电流的方式。个人感觉这两种方式好点重复,不知道有没有测试工程师解释一下pad是不是有更好的测试方法?
发表于 2010-11-30 21:52:52 | 显示全部楼层
不清楚
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