请问同步DCDC使用时有击穿现象是什么原因

chudong · 发表于 2009-11-29 22:10:48

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请问各位,DCDC同步电源芯片在使用过程中总出现VIN SW 击穿现象,或者SW GND击穿现象是什么原因?

rengd02 · 发表于 2009-11-30 18:53:27

如果开关管在转换过程中不能及时打开，我想源漏会被击穿

雨田 · 发表于 2010-8-2 15:47:19

1.在DC-DC中，VIN和SW之间有一个diode，如果击穿，我怀疑就是process的高压MOS的performance.
2. 如果在SW和GND之间有击穿，能再解释清楚一点吗？一般情况我们会在SW点做高压的ESD保护。如果你做的是同步的DC-DC，low side的NMOS的VDS太大了吧

maxllent_liu · 发表于 2010-8-9 18:17:50

我碰到的情况就是某些条件下,SW的over voltage protection起来,上下两开关管都关闭,此时电感电流依然存在,且电流不会突变,只能从SW点拉电流从而使SW变负电位,上面管子VDS超出范围而被击穿.
至于下面管子击穿,同上楼SW有ESD保护,且SW比VIN过冲时的幅值不是很大.所以还没碰过下面管子击穿的.

bibisweetie · 发表于 2012-1-19 10:47:16

增加dead time，保证所有corner下pmos，nmos开关均不导通时间2n~10n，可避免馈通

请问同步DCDC使用时有击穿现象是什么原因

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