怎么根据BATHTUB CURVE(浴盆曲线)的第一阶段初期失效来筛除芯片？

icemc2008 · 发表于 2009-10-28 23:56:48

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想问问大家，根据浴盆曲线，芯片失效分为三个阶段，第一阶段是初期失效：一个高的失效率。由制造，设计等原因造成。第二阶段是本征失效：非常低的失效率，由器件的本征失效机制产生。第三个阶段：击穿失效，一个高的失效率（是否存在尚在争论）

想问问第一阶段大概预计时间是1年。但是这个失效率是在消费者拿到芯片之前已经被制造商承担了的。我想问问制造商是怎么从比如刚做出来的100个芯片，分析，筛选而过滤之后给客户的？是要先进行老化（burn-in）测试么？过了一段时间将通过测试的芯片封装再出厂？

十分感谢。可能是我对浴盆曲线还不太了解，所以请大家多多指教

karen842 · 发表于 2012-8-22 16:45:26

回复 1# icemc2008

请问你现在对浴盆曲线有了解了吗？能简单说一下吗？

bohaiyujialing · 发表于 2024-12-18 21:37:19

上古时期的帖子，哈哈

怎么根据BATHTUB CURVE(浴盆曲线)的第一阶段初期失效来筛除芯片？

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