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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IC CP test资料
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楼主: geffice

IC CP test资料

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Leohuang891106
发表于 2013-1-18 14:29:30 | 显示全部楼层
看看呢
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johnson313
发表于 2016-3-11 14:04:37 | 显示全部楼层
回复 1# geffice


     谢谢分享。
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dcy1837
发表于 2016-3-12 22:59:49 | 显示全部楼层
感謝大大的分享
趕快下載來閱讀
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pxj0557
发表于 2016-4-1 22:10:30 | 显示全部楼层
学习一下，谢谢分享！
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pxj0557
发表于 2016-9-20 15:00:54 | 显示全部楼层
学习一下，谢谢分享！！！
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jimcmwang
发表于 2016-10-21 16:43:44 | 显示全部楼层
IC CP test资料
主要有continuous，OPEN/SHORT, Leakage current，Drive capacity 等参数测试
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林小明
发表于 2018-9-6 18:38:33 | 显示全部楼层
Thanks for sharing
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zileo0617
发表于 2018-9-14 09:49:37 | 显示全部楼层
好壓~~感謝分享
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林小明
发表于 2018-11-18 23:10:24 | 显示全部楼层
学习学习
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Jaytrue
发表于 2021-3-12 15:33:11 | 显示全部楼层
是不是我想要的
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