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主要针对高精度测量类的AD.
1:参考电压需要足够精确,推荐使用外部高精准参考电压.
2:如果PGA可调,增益系数一般是越小噪声越低.
3:一般最好用到满量程,此时AD精度不浪费.
4:如果有偏置,需要进行自校.
5:请注意在使用DEMO板调试时,会由调试口导入PC噪声,由信号连接线导入外部噪声,因此建议使用屏蔽电缆传输信号.
6:板上注意模拟电源和数字电源,以及模拟地和数字地要分开,减少耦合噪声路径.
7:使用差分输入可以减少共模噪声,但是差模噪声会增大.
8:如果是片内集成AD的MCU,支持高速时钟,如果不影响性能,内部工作时钟越低,对您的AD采样引起的干扰越小,如果是板上就需要注意走线和分区.
9:信号输入前级接滤波电路,一般一阶RC电路较多,注意Fc=1/1000~1/100 采样频率,电阻和电容的参数注意选取.信号接入后级接滤波电路最好采用sinc滤波方式.注意输入偏置电流会限制您外部的滤波电阻阻值的大小.
R x Ib < 1LSB.
有的片内AD还有集成输入Buffer,有助与抑制您的噪声,一般是分两当,看输入信号范围和满量程之间的关系.
AD分为很多中,SAR,FLASH,并行比较型,逐次***近型,Delta sigma型,一般是速度越高,精度越高越贵,所以ADI之类的公司一直那么富裕,赚黑钱......
针对不同场合不同成本不同要求分别选用.
还得注意是您的Layout.
经验数据:做到以上几点,您的分辨率会提高好几位. |
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发表于 2006-7-5 11:40:21
好!
