在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 5898|回复: 11

大家觉得VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability这本书如何

[复制链接]
发表于 2009-10-9 23:48:12 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
RT,感谢各位牛人的指点!
发表于 2009-10-15 13:27:15 | 显示全部楼层
没有看过:)
发表于 2009-10-15 18:27:58 | 显示全部楼层
hehe~~~偶也没看过   
楼上看过之后记得发一些评论
呵呵  谢了
发表于 2009-10-17 14:54:16 | 显示全部楼层
hehe~~~等待书评~~~
头像被屏蔽
发表于 2009-10-21 15:15:30 | 显示全部楼层
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
头像被屏蔽
发表于 2009-12-3 15:27:20 | 显示全部楼层
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
发表于 2010-8-19 10:49:03 | 显示全部楼层
是亚洲测试会议的一帮牛人写的,不错
发表于 2010-8-22 03:36:09 | 显示全部楼层
也想知道。
发表于 2011-7-5 20:50:56 | 显示全部楼层
我也想知道……
发表于 2020-9-1 10:33:04 | 显示全部楼层
我也想知道
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-25 21:58 , Processed in 0.024812 second(s), 8 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表