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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › A DFT Experience in a Complex Million Gate Design
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楼主: ewido

A DFT Experience in a Complex Million Gate Design

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发表于 2009-12-31 11:16:24 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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发表于 2010-1-14 13:59:53 | 显示全部楼层
谢谢分享！
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发表于 2010-2-2 05:09:49 | 显示全部楼层
thanks
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eceking
发表于 2010-2-2 12:41:23 | 显示全部楼层
Thank you for your contribution!
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发表于 2010-3-8 19:23:53 | 显示全部楼层
thank you very much
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sycall
发表于 2010-10-13 12:23:19 | 显示全部楼层
good paper but the tool is too old
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hggqiang
发表于 2013-1-12 14:36:32 | 显示全部楼层
good @,up up
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发表于 2019-5-8 17:58:37 | 显示全部楼层
感谢分享
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发表于 2019-9-24 11:35:58 | 显示全部楼层
The book is too old? 2003 version
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发表于 2020-4-17 11:02:23 | 显示全部楼层
有点旧2003年的资料
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