CMOS栅氧可靠性评价

ddrr · 发表于 2009-4-21 13:27:01

您需要登录才可以下载或查看，没有账号？注册

x

论文两篇：（同作者）
0_18_mCMOS工艺栅极氧化膜可靠性的衬底和工艺依存性
用不同方法评价0_18_mCMOS工艺栅氧击穿电压和击穿电量

sara · 发表于 2009-4-21 19:21:39

好东西，学习一下

runxin · 发表于 2009-4-21 22:40:49

看看看看

hhaahaha · 发表于 2009-4-24 15:23:27

提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽

yixiubing · 发表于 2009-4-25 16:16:20

xie xie !!

alex_bai · 发表于 2009-4-27 09:43:43

:victory:

davide · 发表于 2009-12-29 17:13:46

看了一下，与刚下的一个免费的完全一样。亏大了。

hunu_zyf · 发表于 2010-3-5 09:43:07

顶顶顶

fj198462 · 发表于 2011-1-5 11:10:10

谢谢分享!

grayshen · 发表于 2012-4-1 09:55:02

好东西，谢谢哦。

hhaahaha hhaahaha 当前离线积分 35 头像被屏蔽	发表于 2009-4-24 15:23:27 \| 显示全部楼层提示: 作者被禁止或删除内容自动屏蔽
hhaahaha hhaahaha 当前离线积分 35 头像被屏蔽
	回复支持反对举报

站长推荐 /1