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楼主: dendrite

[高清晰版]VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

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发表于 2009-12-27 00:20:29 | 显示全部楼层
Yes! It's a clear version of eBook.
发表于 2009-12-27 00:26:19 | 显示全部楼层
Content
1 Introduction
2 Design for Testability
3 Logic and Fault Simulation
4 Test Generation
5 Logic Built-In Self-Test
6 Test Compression
7 Logic Diagnosis
8 Memory Testing and Built-In Self-Test
9 Memory Diagnosis and Built-In Self-Repair
10 Boundary Scan and Core-Based Testing
11 Analog and Mixed-Signal Testing
12 Test Technology Trends in the Nanometer Age
发表于 2009-12-31 11:22:08 | 显示全部楼层
thanks for sharing
发表于 2010-1-3 14:12:37 | 显示全部楼层
XIEXIE~~~~~~~~~~~~~
发表于 2010-1-4 14:48:56 | 显示全部楼层
学习 1# dendrite
发表于 2010-1-4 19:44:12 | 显示全部楼层
多謝樓主!!!!!!!!
发表于 2010-1-9 22:01:54 | 显示全部楼层
thanks a lot
发表于 2010-1-12 15:12:10 | 显示全部楼层
jkk afdsewa
发表于 2010-1-12 16:34:54 | 显示全部楼层
thanks.
发表于 2010-1-13 21:57:58 | 显示全部楼层
谢谢分享!!!!!
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