在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
楼主: wontall

IC ESD防护以及芯片失效分析方法讨论

[复制链接]
发表于 2014-1-19 13:08:07 | 显示全部楼层
3kkkkkkkkyyyyyyyyyyyyyyyy
发表于 2014-9-1 15:10:08 | 显示全部楼层
下来看看,希望有用吧
发表于 2014-9-1 17:26:23 | 显示全部楼层
tks tks
发表于 2014-9-3 19:06:32 | 显示全部楼层
ESD !!!
发表于 2014-11-12 14:20:12 | 显示全部楼层
非常不错,感谢分享啊!
发表于 2014-11-12 19:06:17 | 显示全部楼层
is about FA
发表于 2015-1-8 16:31:29 | 显示全部楼层
IC ESD防护以及芯片失效分析方法讨论
发表于 2016-11-21 18:13:18 | 显示全部楼层
回复 1# wontall

是讲义的一节:
   四、电子元器件ESD灵敏度测试分类的三个模型及有关标准   静电放电灵敏度(ESDS)是指会导致元器件失效的静电放电电平。1、三个模型及有关标准(1)人体模型(HBM),MIL-STD-883D,(GJB548A)方法3015.7EOS/ESD-S5.1-1993(2)机器模型(MM),ESD-S5.2-1996(3)带电器件模型(CDM),接触式——摩擦起电模型非接触式——电场感应模型(FIM)ESD S5.3-1995 带插座模型ESD DS5-3.1-1996 无插座模型JESD 22-C101 场感应CDM微电子器件耐压测试方式
发表于 2016-11-27 21:28:29 | 显示全部楼层
have a look
发表于 2016-11-28 01:53:11 | 显示全部楼层
非常感謝~~~
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条


小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-22 22:03 , Processed in 0.024732 second(s), 6 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表