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楼主: wontall

IC ESD防护以及芯片失效分析方法讨论

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发表于 2013-2-22 10:30:42 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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发表于 2014-1-19 13:08:07 | 显示全部楼层
3kkkkkkkkyyyyyyyyyyyyyyyy
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发表于 2014-9-1 15:10:08 | 显示全部楼层
下来看看,希望有用吧
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发表于 2014-9-1 17:26:23 | 显示全部楼层
tks tks
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发表于 2014-9-3 19:06:32 | 显示全部楼层
ESD !!!
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发表于 2014-11-12 14:20:12 | 显示全部楼层
非常不错,感谢分享啊!
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发表于 2014-11-12 19:06:17 | 显示全部楼层
is about FA
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发表于 2015-1-8 16:31:29 | 显示全部楼层
IC ESD防护以及芯片失效分析方法讨论
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发表于 2016-11-21 18:13:18 | 显示全部楼层
回复 1# wontall

是讲义的一节:
   四、电子元器件ESD灵敏度测试分类的三个模型及有关标准   静电放电灵敏度(ESDS)是指会导致元器件失效的静电放电电平。1、三个模型及有关标准(1)人体模型(HBM),MIL-STD-883D,(GJB548A)方法3015.7EOS/ESD-S5.1-1993(2)机器模型(MM),ESD-S5.2-1996(3)带电器件模型(CDM),接触式——摩擦起电模型非接触式——电场感应模型(FIM)ESD S5.3-1995 带插座模型ESD DS5-3.1-1996 无插座模型JESD 22-C101 场感应CDM微电子器件耐压测试方式
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发表于 2016-11-27 21:28:29 | 显示全部楼层
have a look
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