设为首页 收藏本站
在线咨询 切换到宽版
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网

 找回密码
 注册

手机号码，快捷登录

手机号码，快捷登录

搜全文
EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC验证 › IC验证资料 › VLSI測試概論
123
返回列表 发新帖
楼主: lodestar6666

VLSI測試概論

[复制链接]
发表于 2013-5-30 23:19:08 | 显示全部楼层
本帖最后由 yutaka1982 于 2013-5-30 23:20 编辑

是關於那些部分
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2013-5-31 12:55:20 | 显示全部楼层
hahahhahha
畅销就业培训课《芯片验证从入门到精通》推荐就业，赢取高薪！
回复 支持 反对

使用道具 举报

发表于 2013-6-2 22:20:19 | 显示全部楼层
回复 1# lodestar6666


   sukhriya... in english its thanks
回复 支持 反对

使用道具 举报

123
返回列表 发新帖
高级模式
B Color Image Link Quote Code Smilies
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条


手机版| 小黑屋| 关于我们| 联系我们| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2025-9-20 05:05 , Processed in 0.012261 second(s), 5 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表