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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › Flash Memory测试技术发展
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楼主: fancykid

Flash Memory测试技术发展

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stevenloveu
发表于 2011-8-11 01:54:51 | 显示全部楼层
回复 1# fancykid


    謝謝你的分享.
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gangersun
发表于 2011-8-12 08:05:39 | 显示全部楼层
nor flash测试基本上涉及不到算法，nand flash测试会涉及到算法。
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yang6695
发表于 2011-8-12 19:06:25 | 显示全部楼层
thanks for sharing
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fixit
发表于 2011-8-14 12:26:16 | 显示全部楼层
学习一下
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meegen
发表于 2011-9-19 15:20:05 | 显示全部楼层
谢谢楼主~~
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fdpp
发表于 2012-5-4 22:09:16 | 显示全部楼层
总结的好，谢谢啦
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zhongcan
发表于 2013-11-1 01:10:26 | 显示全部楼层
谢谢分享哦！
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zmk66
发表于 2014-8-20 21:20:46 | 显示全部楼层
正好需要这个来写东西 谢谢啦 ！
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student321
发表于 2014-8-29 19:38:37 | 显示全部楼层
下来看看
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fixit
发表于 2014-8-30 16:47:40 | 显示全部楼层
学习一下
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