在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 14117|回复: 61

IC测试原理解析

[复制链接]
发表于 2008-8-30 17:20:54 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
本系列一共四章,第一章节主要讨论芯片开发和生产过程中的IC 测试基本原理,内容
覆盖了基本的测试原理,影响测试决策的基本因素以及IC 测试中的常用术语;第二章节将
讨论怎么把这些原理应用到存储器和逻辑芯片的测试上;接下来的第三章将介绍混合信号芯
片的测试,第四章会介绍射频/无线芯片的测试。
对于刚接触IC测试的朋友会很有帮助!

IC测试原理解析.pdf

477.05 KB, 下载次数: 480 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

 楼主| 发表于 2008-8-30 17:23:12 | 显示全部楼层
第一次上传资料。 希望对大家有用!
头像被屏蔽
发表于 2008-8-31 05:51:42 | 显示全部楼层
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
发表于 2008-8-31 22:28:09 | 显示全部楼层
very good   very powerful
发表于 2008-9-3 10:02:12 | 显示全部楼层
谢谢楼主分享
 楼主| 发表于 2008-9-27 08:45:27 | 显示全部楼层
没事顶一下!
发表于 2008-9-27 09:03:28 | 显示全部楼层
i don't know about this,so i collect it .
发表于 2008-9-27 09:05:24 | 显示全部楼层
Thank you ,Sir
发表于 2008-9-27 11:22:19 | 显示全部楼层
谢谢分享啊!
发表于 2008-9-27 14:14:48 | 显示全部楼层
好东西,谢谢
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /1 下一条

×

小黑屋| 手机版| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-11-5 22:01 , Processed in 0.034010 second(s), 10 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表