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原帖由 zhangbj1980 于 2008-8-3 21:33 发表 登录/注册后可看大图 好像Hspice2007不是新增了这个offset功能吗,可以省去蒙特卡罗
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原帖由 jianjing526 于 2008-8-5 16:35 发表 登录/注册后可看大图 以普通0.5umCMOS process为例 tox=14n W=20um, L=2um, m=2 Vos=0.1*14n/sqrt(20u*2u*2)=0.157mV 157uV的失调,未加任何的措施,可能吗? 这只是理想值,真实的失调CMOS工艺在数个mV到十几个mV之间,monto carlo ...
原帖由 allentel 于 2008-8-4 20:46 发表 登录/注册后可看大图 差分输入matching下,一般这么认为
原帖由 douya 于 2008-8-6 12:11 发表 登录/注册后可看大图 不解。 我们希望各个参数都matching,但失调是由工艺产生的。 不知道你所说的差分输入matching,。。。是什么意思
原帖由 zaitian80 于 2008-8-6 11:57 发表 登录/注册后可看大图 mento carlo工具,要看你的分布参数的,你用的值可能是指非对称性晶圆上物理位置随机分布的器件的失配参数 对于上面的计算中,感觉上m放在分母上与WL一起sqrt与常识不合,m越多,匹配性越好才对 简单说就是40/ ...
原帖由 woodchopper 于 2008-8-6 17:31 发表 登录/注册后可看大图 我觉得40/2与 20/2 m=2匹配性是一样的。m越多,匹配性越好是在WL不变的情况下。
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