[转发] 集成电路测试方法研究

suk.qi

目  录

1
边界扫描测试方法.... 1

1.1边界扫描基本状况... 1

1.2 IEEE Std 1149.1. 1

1.3 IEEE Std 1149.4. 3

1.4 IEEE Std 1149.5. 5

1.5 IEEE Std 1149.6. 6

1.6边界扫描测试的发展前景... 9

1.7 本章小结... 9

2
全扫描可测试性实现方法.... 10

2.1为什么需要扫描测试... 10

2.2可扫描单元类型... 11

2.2.1多路选择器型的触发器... 11

2.2.2 专用时钟扫描单元... 12

2.2.3 电平敏感扫描设计... 12

2.2.4辅助时钟LSSD的扫描方式... 15

2.3如何提高故障覆盖率... 15

2.3.1门控时钟问题... 15

2.3.2时钟分频问题... 16

2.3.3内部复位问题... 17

2.3.4 三态网络的DFT. 18

2.3.5双向引脚的DFT. 24

2.4 一个实现实例... 28

2.5本章小结... 29

3 集成电路的低功耗DFT方法.... 30

3.1测试模式下功耗比较高的原因... 30

3.2基于扫描设计的低功耗DFT方法... 31

3.2.1测试矢量的处理... 31

3.2.2合理划分片上的测试资源... 31

3.2.3 减少测试电路节点的翻转次数... 33

3.2.4软硬件协同测试... 34

3.3基于非扫描设计的低功耗DFT方法... 34

3.3.1 对测试向量处理得到低功耗ATPG.. 35

3.3.2降低CUT输入端的活动性... 37

3.3.3采用混合模式测试向量... 38

3.4本章小结... 39

finlaypeng

楼主好人啊，看看

2010.01.27

GOOD!

fixit

thanks

庄周

好书，谢谢分享O(∩_∩)O~

lihongpengtd

顶一个~

lihuailiang

楼主，辛苦

华夏甲骨文

已下载，好好学习一下