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EETOP 创芯网论坛 (原名：电子顶级开发网)»论坛 › IC 设计及制造（半导体、微电子） › IC测试与可测性 › 资料区 › IDDQ测试全面系统化研究
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楼主: heiwen_zhang

IDDQ测试全面系统化研究

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yanli111
发表于 2008-7-28 17:55:07 | 显示全部楼层
good!
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trentlee
发表于 2008-8-1 01:16:38 | 显示全部楼层

thank you very much. ....

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liang_kwok
发表于 2008-10-24 10:37:01 | 显示全部楼层
谢谢了！！！！
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00FA
发表于 2008-12-31 11:38:56 | 显示全部楼层
综述，没接触过的朋友看看罢了
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frankaurora
发表于 2008-12-31 11:57:03 | 显示全部楼层
thanks!!!
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wangjm
发表于 2009-3-1 16:48:47 | 显示全部楼层
thanks a lot
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sgg08444
发表于 2009-12-28 11:49:43 | 显示全部楼层
IDDQ Test new way to test transcient current
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risccpu
发表于 2010-1-27 13:56:43 | 显示全部楼层
good, thanks.
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risccpu
发表于 2010-1-27 14:00:29 | 显示全部楼层
good, thanks.
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dodolong4
发表于 2010-1-29 16:45:28 | 显示全部楼层
看拉,一篇综述文章
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