在线咨询
eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
切换到宽版

EETOP 创芯网论坛 (原名:电子顶级开发网)

手机号码,快捷登录

手机号码,快捷登录

找回密码

  登录   注册  

快捷导航
搜帖子
查看: 5950|回复: 25

一种基于时间分解和空间分解的对ADC进行内建自测试的方法

[复制链接]
发表于 2008-6-5 11:45:08 | 显示全部楼层 |阅读模式

马上注册,结交更多好友,享用更多功能,让你轻松玩转社区。

您需要 登录 才可以下载或查看,没有账号?注册

x
一种基于时间分解和空间分解的对ADC进行内建自测试的方法

一种基于时间分解和空间分解的对ADC进行内建自测试的方法 .pdf

208.26 KB, 下载次数: 106 , 下载积分: 资产 -2 信元, 下载支出 2 信元

发表于 2008-6-17 21:34:04 | 显示全部楼层
BIST  或DFT 非常重要的
发表于 2008-6-18 08:38:58 | 显示全部楼层
very good
发表于 2008-6-19 14:21:51 | 显示全部楼层
发表于 2008-6-23 11:11:01 | 显示全部楼层
好啊 ,好东西
发表于 2008-7-8 15:30:40 | 显示全部楼层
ding ding ding
发表于 2008-7-15 00:03:59 | 显示全部楼层
顶顶顶
发表于 2008-7-17 09:26:17 | 显示全部楼层
thanks
发表于 2008-8-28 09:22:00 | 显示全部楼层
Thanks!!!!
头像被屏蔽
发表于 2008-8-28 13:27:29 | 显示全部楼层
提示: 作者被禁止或删除 内容自动屏蔽
您需要登录后才可以回帖 登录 | 注册

本版积分规则

关闭

站长推荐 上一条 /2 下一条

小黑屋| 关于我们| 联系我们| 在线咨询| 隐私声明| EETOP 创芯网
( 京ICP备:10050787号 京公网安备:11010502037710 )

GMT+8, 2024-4-29 00:27 , Processed in 0.030389 second(s), 9 queries , Gzip On, Redis On.

eetop公众号 创芯大讲堂 创芯人才网
快速回复 返回顶部 返回列表